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工业CT扫描工作站
XT H 225系列
 
 广泛应用于小型铸件,塑料零件检测,材料研究等领域的万能型CT
   在零件内部组装的信息获取与测定,质量管理,故障分析,材料研究等应用中不可缺少。装备了强力的225kV微焦点X射线源的XTH225系列,带给我们高清晰度的X光图像以及CT图像
主要特点
 高速旋转靶(选配件)可以使X射线束最大增幅达到五倍,实现了在同一扫描时间内CT数据精度更高,CT数据获取也更加快速。
• 225kV的强力射线管(选配旋转靶)
• 实时的X射线可视化,迅速的CT 数据重构
• 完全可编程化的5轴操作样品台
• 可自定义宏让检测工作流程自动化
• 针对多用途设计的3种不同大小的铅房防护外壳(标准,ST,LC)

引进功能
• 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测,CT重构精密解析
• 快速获取高品质图像
• 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观
• 高清晰度数字图像与图像处理
• 不需要特别外加防护的完备安全系统
• 通用于业界标准的后处理应用格式

用途
 
    CAD数据实物比对分析                      三维坐标测量
 
  方解石内部金脉分析        气缸的喷油嘴分析
 
        泡沫海绵的CT重构                    蜗牛以及内部幼体化石
精密的塑料零件,小型铸件,复杂的机械装置、CAD实物比对等等的评价与测定
• 详细的故障原因分析
• 高级材料学研究与生物学的构造分析
• 模型的数据转换与保存
• 组装装配的问题分析


XT H 225 X射线和CT检测系统,可供工业应用
工业零部件内外全检
 
   外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供强大的X射线源,超大的检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。

XT H 系统可采用225kV电源,可选用旋转目标,适合于各种应用,包括小铸件检测、塑料件及材料研究。
 
优点

• 可灵活地整合在单个系统中:X射线可用于快速目视检测,CT可用于深入分析快速数据采集和高质量图像;

• 可利用交互式操纵杆导航功能进行快速操作 高分辨率数字成像和处理;

• 嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统,无需任何特殊的预防措施或安全警示标志;

• 可与行业标准后处理应用紧密集成

25-225kV micro-focus source with 3um focal spot size

25-225kV 微焦点源,焦斑大小为3μm

Low cost maintenance open tube technology
低成本维护开管技术
5-axis fully programmable manipulator
五轴完全可编程操纵器

Choice of high resolution digital detector
精选高分辨率数字探测器

Dual display for combined measurement and real-time analysis
双显示,用于组合测量和实时分析
Intuitive joystick navigation drives real-time X-ray image generation
直观的操纵杆导航可指导生成实时X射线图像

 Measurement volume of 25X60cm
测量体积 25X60cm

Safety as a design criterion
安全装置,可作为设计标准

Compact design and low weight facilitates installation
结构紧凑设计,轻质设施安装
Ergonomic loading of sample
符合人体工学的样品装载

应用
  评估和测量精密塑料件和小铸件、复杂机构、内部零件、部件与CAD比较等
故障检测和失效分析
装配问题的故障诊断排除
先进材料研究和生物结构的分析
模型的数字化归档
主要特征概述
X射线源
  可使用25kV至最大225 kV电压,XT H 225系统可用于一般用途,例如塑料、PCB、轻合金、小组件和有机样本或生物样本,也可用于特殊用途,例如重型铸件、焊接件和高密度合金。
目标
  微焦斑可产生非常高的分辨率,并建议将其作为标准目标。棒阳极是中空样品单层壁检测的理想选择,例如管焊接。
旋转目标源
  带有旋转目标的X射线源可将X射线通量提高5倍,使客户能获得更快的CT数据采集或在相同的时间跨度内获得更高的CT数据精度。
五轴样品操纵器
  XT H 225系统有三个线性轴和两个旋转轴,可从任意角度观察样品。10kg操纵器可夹住大多数样品重量,以最高精度进行操纵。操纵器通常用变速操纵杆进行控制。操纵器也可通过安装在机架上的工业PC机采用编程的方式进行控制。
X射线平板探测器
  可广泛选择各种平板,使其更好地匹配物体尺寸和X射线能量,这提供了样品尺寸、视场和放大倍数要求的最佳选择。
高放大倍数
  当样品向X射线源移动时,几何放大倍数将连续增加,从大约1X(紧挨着增强器窗口)增大到160X(碰触到X射线源)。
图像处理
   一般NDT应用通常需要一些标准功能,例如对比度加强,图像集成和背景减除。对于更加重要的分析,需要使用一些特殊功能,例如自动芯片粘接空洞和引线弯曲计算、图形显示和色彩增强。
可靠性
  连续泵浦全金属X射线管消除了密封玻璃管故障成本高和更换时间长等问题。客户维护成本低,通常只需更换灯丝,只需花费15分钟的更换时间。
系统技术指标 
  5 µm 焦斑反射目标X射线源,25~225 kV,0~2000 µA(非连续)60或225W。
10kg容量五轴完全可编程操纵器。
最大扫描范围250 x 330mm。
最大几何放大倍数:160x.
最大系统放大倍数:400x。
特征识别分辨率:最低1µm。
外机柜尺寸:2030mm L,925mm D,2000mm H。
全套系统控制和图像处理软件。

也可访问 www.ct-inspection.com

 

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